本文標題："晶體結構光學的測定裂紋顆粒界面"
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晶體結構光學的測定裂紋顆粒界面
光學性質的測定
在聚斂偏光下研究干涉圖可以確定非均質晶體的軸性、切片方位
、測定光性符號、二軸晶光軸角和光率體色散等。
1．晶體的軸性和切片方位的確定
根據干涉圖的形象特征及變化規律即可確定晶體的軸性和切片方
位。在聚斂偏光下沒有干涉圖的都是均質晶體，有干涉圖的為非均質
晶體。垂直或接近垂直光軸的干涉圖可以確定非均質晶體的軸性，這
類切片在正交偏光下全消光或僅有較低的干涉色，凡轉動物臺干涉圖
的形態不變，或有一黑帶平行目鏡十字絲掃過視域者均為一軸晶；
許多光學性質及常數的測定，必須在定向切片上才能測到。一軸
晶常用的是垂直光軸和平行光軸兩種切片，二軸晶常用的有垂直光軸
和平行光軸面的兩種切片。
凡是正交偏光下全消光，
從材料本身條件來說，具有一定鍵角的共價鍵、強鍵、復雜的晶
格構造和晶體結構是脆性的基礎。與此相反，在金屬中金屬鍵和緊密
球形堆積一般導致塑性變形。
有些無機非金屬材料在一定的條件下顯示出非脆性或部分脆性行
為。在一定的組成和晶體結構的條件下，有時會觀察到延展性的跡象
或具有完全延展性。表6-6列出了脆性、“半脆性”和延展性無機非金
屬物質的力學性能。
部分脆性位錯運動橫向滑移困難滑移面有限(H80)塑性屈服階段長部
分延展性好
彈性直至
斷裂表面裂紋顆粒界面上滑移帶碰撞導致劈裂位錯運動橫向滑移
很少滑移面有I~acl)塑性屈服階段短延展性好在斷裂前部分塑性表面
裂紋
延展性!位錯運動橫向滑移很少滑移面無限(A2C1)塑性屆服階段短韌
性斷裂塑性流動直至韌性斷裂韌性斷裂
材料的脆性變形要求出現裂紋(楔口)并發生擴展，這是一個主要
前提。楔口和裂紋的存在是無機非金屬材料的典型特征。楔口和裂紋
往往在生產過程中出現，首先是受熱工過程中冷凝和微應力的作用。
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