本文標題："磁場源往往處于均勻磁場-磁力材料技術"
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磁場源往往處于均勻磁場-磁力材料技術
由于被探測磁場源往往處于均勻磁場(如地磁場)環境之中，所
以宜用磁強梯度計探測之。被探測磁場源在自身周圍建立的分布磁
場的梯度與被測點和它的距離的四次方成反比，所以，磁通門磁強
梯度汁測量桿應趨近磁場源探測之。如果要求定量檢測，應保持它
們的約定距離，并固定它們的相對位置，磁強梯度計測量桿應當對
準約定方向，或轉動位置以測得最大梯度值；如果只要求定性檢測
，相對距離和位置不必很準確，且往往以差值探頭替代梯度探頭。
如果被探測磁場源的分布磁場比較強，也可以普通磁強計探測，分
布磁場的強度與探頭和磁場源的距離的立方成反比。
4．磁性參數測量磁性材料樣件本身，或在附加裝置的作用下
．構成一個磁場源，且在其周圍空間建立的磁場與材料某項磁性參
數具有單值函數關系者，均呵利用磁通門磁強計檢測該項磁性參數
。可以根據它們之間的數學關系式汁苒．也可以對比方法確定它們
的比例系數(一一對應比值，但不～定是常系數)。實現這種問接測
量方法的條件是它們的函數式中的參變量(工程檢測中稱為影響量)
必須為穩定的已知數，或者能根據影響量的變化加以補償或修正。
5．非磁量磁測 本王質卜是以有磁性物體表征被測物理量，
所段滿j：磁場源探測或磁性參數測量的特殊應用。
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