本文標題："AFM顯微鏡發明突破了STM對樣品材料的導電要求"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2016-12-7 1:40:2
AFM顯微鏡的發明突破了STM對樣品材料的導電要求
AFM的發明突破了STM對樣品材料的導電要求，可對包括絕緣表
面在內的各類表面進行接近原子級分辨精度的形貌測量。因而AFM
在超精密加工表面形貌測量領域有著極其重要的應用價值。以常見
的接觸模式為例，系統工作時，AFM探針針尖與樣品表面保持準接
觸狀態，且針尖相對于樣品表面做X、y向柵格掃描運動。掃描過程
中，探針的懸臂梁將受樣品表面形貌的調制而發生形變。這一形變
量則由力檢測系統檢測獲得并將其反饋至控制系統。控制系統進而
控制掃描管沿Z向伸縮變化以保持懸臂梁的形變量恒定。這樣系統
便可通過采集掃描管的Z向伸縮量信息獲得樣品表面的三維形貌。
后一篇文章：SEM要求被測樣品表層為噴金鍍膜導電材料 »
前一篇文章：« 基礎油的沸點分布大多在減壓蒸餾過程中測定
tags:材料學,金相顯微鏡,上海精密儀器,
AFM顯微鏡發明突破了STM對樣品材料的導電要求,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/3907.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/