歡迎來到上海光學儀器一廠

本文標題："測量覆層取樣的方法-檢測件的結構分析顯微鏡"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2016-5-7 4:23:45

測量覆層取樣的方法-檢測件的結構分析顯微鏡

取樣

測量覆層某一部位的厚度并不能確定各點的厚度。通常取樣．

應根據要求在關鍵部位之一處或多處選取．如果沒有要求，也．

應在關鍵表面且最不符合覆層厚度要求處進行取樣．

取樣大小可根據具體檢測件的結構而定，通常為不大于1 2

25mm的方形塊或圓柱體。此外，取樣應注意不要改變覆層

尺寸。

邊緣保護

邊緣保護是在試樣的覆層表面上再加一層覆層，其目的是在：

試樣制備過程中起保護試樣的邊緣作用。保護覆層用的金屬材料

硬度應具有近似子覆層金屬材料的硬度，而且應和被測覆層顏色．

有較好的對比度，因此采用的金屬材料要加以選擇。如測量鎳鍍．

層時選用銅作邊緣保護層，反之測量銅鍍層時選用鎳作保護層．

對于鋅和鎘鍍層不宜用銅作保護層，因為在浸蝕過程中銅層-

會遮蔽被測鍍層。通常測鋅鍍層用鎘作保護層，而測鎘鍍層又甩

鋅作保護層。

tags:材料學,礦物,金相,金相分析,金相顯微鏡,上海精密儀器,

測量覆層取樣的方法-檢測件的結構分析顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應