本文標題："TEM電子顯微鏡樣品測量面積是極小的-光學儀器常識"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2014-12-22 17:39:45
TEM電子顯微鏡樣品測量面積是極小的
在分析TEM樣品時，必須懂得測量面積是極小的，因此，
測量結果末必能代表整塊試樣，應當采用盡可能低的放大倍
數而是要許多位置上隨機地選擇試驗區(qū)域。用復型測定沒有
大的問題。應用的方法同反射光的光學顯微鏡方法也一樣，
除非是由于用了很高的放大倍數而使測量面積很小影響統(tǒng)計
學的測量精度。
SEM具有光學顯微鏡和大部分TEM所復蓋的放大倍數的范圍
，但制樣方法和光學顯微鏡一樣，雖然對SEM觀察時，為改
善圖象反差，常常把試樣浸蝕得深一些，但是使用現代化的
儀器則不一定有深浸蝕的必要。對于高倍下的測量要得到最
好的精確度，要求淺浸蝕，其實，若各相之間的原子序數差
別較大而足以產生滿意的背散射電子圖象的話，許多試樣用
不著浸蝕就可進行觀察，深浸蝕會增加視在尺寸、體積分率
和第二相粒子數而減少它們的間距，深浸蝕試樣對研究形狀
和大小很有用，但任何獲得其他情報的嘗試會導致錯誤的結
論。當試圖用SEM圖象或照片進行測量時，應避免試樣相對
于電子束的傾斜，否則會使分析復雜化。
后一篇文章：多晶體金屬和合金的強度金屬熔點測量工具顯微鏡 »
前一篇文章：« 結晶細晶粒加工硬化表面粗糙度測量顯微鏡
tags:顯微鏡廠家,技術,金相顯微鏡,上海精密儀器,
TEM電子顯微鏡樣品測量面積是極小的-光學儀器常識,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/2116.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/