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本文標題："光學顯微鏡的成像裝置圖像CCD-磨粒圖像分析"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-3-4 22:47:28

光學顯微鏡的成像裝置圖像CCD-磨粒圖像分析

圖像預處理CCD 圖像采集方法是將多維圖像變成一維電信號，再

對其進行處理、存儲、傳輸等加工，最后通常要再組成多維圖像信號。

在顯微鏡條件下，磨粒圖像中存在各種各樣的噪聲和畸變對磨粒

識別的準確性產生影響。

通過預處理去掉這些噪聲和畸變，使得磨粒的特征參數提取和識

別過程更易于進行

預處理一般采用卷積運算，即將算子（有時也稱為模板）與數字

圖像進行卷積運算。例如，平滑算法是將原圖中一個像素的灰度值和

它周圍鄰近8 個像素的灰度值相加，然后將求得的平均值作為新圖像

中該像素的灰度值。卷積是一種用途很廣的算法，可用卷積來完成各

種處理變換，后面將要討論的細化、邊緣檢測等都要用到卷積運算，

其中包括：鄰域平均法、中值濾波、復合型中值濾波、高階中值

濾波、空間域低通濾波、頻率域低通濾波和多幅圖像平均法。

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