本文標題："巖石層厚度量測以及孔隙率測量影像測量儀器"

巖石層厚度量測以及孔隙率測量影像測量儀器

判斷震波反射和層面之間的關系，進而評估個別反射的可能時間意義。如果有聲阻的變化，

震波反射祗會在層面的地方發生。此外，還有側向及垂直方向的解析度問題存在。為了研
究在不同狀況下的層面的震波響應，我們檢討一下最有利的情形：即 1000 公尺或一秒
鐘的雙程走時的較淺深度、高頻震波（約 50 赫）以及低速（約 2000 公尺／秒）。這些
參數代表在探勘工作最佳的例子。在深度或速度上的增加以及在頻率上降低，都會對
垂直方向及側向的解析度有嚴重的效果。就以上的頻率及間隔速度而言，一個地層至
少須有 20 公尺厚（40 公尺波長的一半），才不致從地層的頂部及底部來的反射之間發
生干擾現象。由 20 公尺降到 10 公尺（四分之一波長，即調波厚度）時，則由地層的
頂部及底部來的反射之間將發生干擾。最大的建設性干擾發生在 10 公尺，

即調波厚度，但要求在地層單元的頂部及在底部反射系數具有不同的極性。在調波厚度的時候，震
波反射像似一單純的漣波，振幅最大。當厚度小于 10 公尺時，震波響
應為一單純的一定波長的漣波，不過，隨著厚度更薄，振幅變小。對于 1 公尺左右厚
度的獨立地層，其震波響應可以忽略。相當于這些參數的夫瑞奈帶的半徑，在未經移
位的剖面上，約為 141 公尺。

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巖石層厚度量測以及孔隙率測量影像測量儀器,金相顯微鏡現貨供應

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